Mikroskopy UV-VIS-NIR
Dwuwiązkowy spektrofotometr z mikroskopem o wysokich parametrach pomiarowych do badania próbek w trybie transmisyjnym i odbiciowym w zakresie UV-VIS lub UV-VIS-NIR.
Zakres pomiarowy widma od 200 do 900, 1600 lub 2700 nm z rozdzielczością do 1 nm w zakresie do 900 nm i do 4 nm w zakresie NIR. Posiada doskonałą stabilność dzięki podwójnej wiązce optycznej. Pomiarowa przechodzi przez obiektywy, referencyjna służy do korekcji stabilności parametrów mikroskopu. Duża precyzja i rozdzielczość.
Podwyższona Specyfikacja trzech modeli w plikach do pobrania – model MSV-5500 na zakres 200-900 nm; model MSV-5700 na zakres 200-2700 nm oraz model MSV-5800 UV-VIS-NIR do 1600 nm o podwyższonej czułości w zakresie NIR.
Podstawowe obszary zastosowań:
– badania półprzewodników,
– właściwości elementów optycznych i kryształów,
– pomiary próbek biologicznych,
– pomiary kryminalistyczne, dokumenty, papiery wartościowe,
– pomiary polaryzacyjne i fluorescencyjne,
– analiza kolorów i pomiary grubości.
– Automatyczny stoik XYZ z platformą przystosowaną do różnych próbek oraz do wstawienia uniwersalne ramki pozycjonującej synchronizującej pozycje położenia próbki dla pomiarów w mikroskopie FTIR i Ramanowskim,
– Sfera całkująca do pomiarów transmisyjnych rozproszonych,
– Przystawka do pomiarów fluorescencyjnych – wzbudzenie laserowe lub lampą ksenonową z wybranym filtrem; emisja mierzona przy pomocy polichromatora,
– polaryzator – analizator /depolaryzator , opcjonalne obiektywy typu Cassagrainian,
– obiektywy soczewkowe o długiej odległości pomiarowej.
Specyfikacja techniczna
– źródło światła : lampa deuterowa i halogen, i / lub opcjonalnie lampa ksenonowa 150 W (opcja)
– dokładność długości fali : +/- 0.3 nm ( UV/VIS) +/-1.5 nm (NIR)
– szerokość spektralna : od 1 do 10 nm (VIS) i 40 nm (NIR)
– szybkość skanowania : 10 – 4000 nm/min
– tryby pomiarowe : widmo, kinetyka, pomiary punktowe
– tryb skanowania; ciągły i krokowy
– detektory : Fotopowielacz – zakres UV-VIS i PbS lub InGaAs chłodzone peltierem
– optyka mikroskopu: obiektywy typu Cassegrainian x10, x16 lub x32
– obserwacja próbki: kamera CMOS 3 Mpikseli, podświetlenie próbki LED, system ATOS
– wielkość próbki – min 10 µm , max 75 x 50 x 20/25 mm ; stolik ręczny lub automatyczny
– polaryzator: opcja – Glan-Taylor, automatyczny , 215 – 2300 nm
– wymiary, waga: 700 x 740 x 640 mm / 105 kg
– interfejs z łączem USB do komputera PC,
– oprogramowanie Spectra Manager 2.5 pracujące w środowisku Windows.
Specyfikacja – Mikroskop UV-VIS Jasco Seria MSV 5500
Specyfikacja – Mikroskop UV-VIS-NIR Jasco Seria MSV 5700
Specyfikacja – Mikroskop UV-VIS-NIR Jasco Seria MSV 5800